热辅助光致衰减（LeTID）是导致多晶硅及PERC光伏组件衰减的一种重要机制，由于该机制在实际情况中可能引起较大的光伏组件发电功率衰减，其已经引起了光伏产业界广泛的关注。根据IEC草案中的LeTID测试方法，部分光伏组件在经过600小时的测试后，其效率衰减可高达6%以上，并保持着继续下降的趋势。由于LeTID测试的高耗时性，研究一种可以加速表征这种衰减过程的方法十分必要。

TUV莱茵在内部标准2 PfG 2689/04.19提出的LeTID测试方法基于IEC 61215相关测试序列，并兼顾了LeTID的形成条件与原理，可以用于准确监控其衰减趋势并有效加速测试流程。

在我们关于“晶硅光伏组件的热辅助光衰（LeTID）测试方法与流程”的在线研讨会中，TUV莱茵技术专家高祺博士将会对LeTID测试方法展开介绍并分享最新的相关研究成果。行业内所关心的注入电流对测试的影响以及暗电压特性监控技术等问题也会在研讨会中进行详细介绍。

时间：

2020年4月16日
16：00-17：00 （北京时间）

演讲人：

高祺博士
莱茵技术(上海)有限公司光伏技术服务研发部
高级项目工程师

高祺于2018年与中国科学院上海微系统与信息技术研究所获得微电子学与固体电子学博士学位，同年加入TÜV莱茵。他的研究领域主要包括光伏组件的发电特性与可靠性分析、光伏组件的模拟建模与新型光伏组件（智能光伏组件、双面光伏组件与高容性光伏组件）的测试流程开发等。

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