半導體元件檢測與認證服務

半導體元件是驅動未來科技發展的重要基石,也是物聯網與電子產業的關鍵。近年來,隨著全球半導體供應鏈重組與在地化趨勢掀起浪潮,為半導體元件的設計與製造企業帶來前所未有的機遇與挑戰。

作為全球領先的第三方技術服務機構,德國萊因TÜV提供涵蓋整個半導體產業鏈的一站式檢測與認證服務,協助企業明確產品規範,為產品順利進入全球市場保駕護航。我們擁有專業的技術團隊與豐富的實務經驗,將為您提供最優質的服務。

台灣德國萊因TÜV
TÜV Rheinland Taiwan
聯絡人:Brenda Y. T. Huang
電話:+886 2 2172 1559
信箱:Brenda.Huang@tuv.com

我們的服務

產品類別 可靠性測試與安全認證
  • 數位隔離器
  • 隔離放大器
  • 單通道隔離式驅動IC
  • 雙通道隔離式驅動IC
  • 隔離電源的隔離總線IC

AK Certificate AEC-Q100

TÜV mark DIN EN IEC 60747-17(VDE 0884-17) and EN IEC 60747-17 or EN IEC 62368-1

CB IEC 62368-1

cTUVus UL 1577 or UL 62368-1

CQC GB 4943.1

  • 類比式光耦隔離驅動IC /光耦

AK Certificate AEC-Q100

TÜV mark DIN EN IEC 60747-5-5(VDE 0884-5) and EN IEC 60747-5-5 or EN IEC 62368-1

CB IEC 62368-1

cTUVus UL 1577 or UL 62368-1

CQC GB 4943.1

  • 限流IC
  • 放電IC
  • 充電IC
  • 電流感測器

AK Certificate    AEC-Q100

TÜV mark  EN IEC 62368-1

CB   IEC 62368-1

cTUVus   UL 62368-1

CQC   GB 4943.1

關鍵測試

  • 局部放電測試

    半導體的隔離需要考慮絕緣耐電壓和絕緣可靠性。局部高壓場強會導致絕緣材料出現局部放電,影響絕緣強度和產品性能。局部放電測試是非破壞的檢測方式,也是檢驗絕緣可靠性的重要方法之一。
  • 絕緣測試

    根據標準 DIN EN 60068-1,測試元件需承受在指定條件下的絕緣試驗電壓(UIOTM、UIORM)。測試應在正常氣候條件下進行;若元件外殼無足夠的空氣間隙,則可調整環境條件,例如使用額外空氣壓力或絕緣油。測試時,將交流或直流的測試電壓施加於半導體器件的輸入與輸出兩極,要求絕緣層能夠承受一分鐘的高壓測試。

  • 脈衝電壓測試

    該測試透過施加高電壓脈衝訊號來模擬電路或設備在運作過程中所遭受的瞬態電壓,以檢測其對此類電壓的抵抗能力。測試通常包括確定脈衝的上升時間、峰值電壓、脈衝寬度、重複頻率等參數。脈衝電壓測試非常重要,可用於確保電子設備或電路在各種環境條件下具備高度可靠性。

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